Característiques del microscopi electrònic d'escaneig
Tot i que el microscopi electrònic d'escaneig és una estrella emergent en la família del microscopi, s'ha desenvolupat ràpidament a causa dels seus molts avantatges únics.
1 L'instrument té una alta resolució, i la imatge electrònica secundària es pot utilitzar per observar els detalls de la superfície de la mostra a uns 6nm. Utilitzant la pistola d'electrons LaB6, es pot millorar encara més a 3nm.
2 La gamma d'ampliació de l'instrument és gran i es pot ajustar contínuament. Per tant, podeu triar diferents mides de camp de visió per a l'observació segons les vostres necessitats. Al mateix temps, es poden obtenir imatges clares d'alta brillantor que són difícils d'aconseguir amb microscopis electrònics de transmissió ordinaris a alta ampliació.
3 Observeu la profunditat del camp de la mostra, el camp de visió és gran, i la imatge està plena de sentit tridimensional. Es pot observar directament la superfície rugosa amb grans fluctuacions i la fractura metàl·lica desigual de la mostra, etc., donant a la gent la sensació d'estar en el micro món.
4 La preparació de la mostra és senzilla, sempre que el bloc o la mostra de pols es tracti o no es tracti una mica, es pot observar directament en el microscopi electrònic d'escaneig, de manera que està més a prop de l'estat natural de la substància.
5La qualitat de la imatge es pot controlar i millorar eficaçment mitjançant mètodes electrònics, com ara el manteniment automàtic de la brillantor i el contrast, la correcció de l'angle d'inclinació de la mostra, la rotació de la imatge o la latitud de millorar el contrast d'imatge mitjançant la modulació Y, i la brillantor de cada part de la imatge Moderada. Utilitzant dispositius d'ampliació dual o selectors d'imatges, les imatges amb diferents magnificacions es poden veure simultàniament a la pantalla fluorescent.
6 L'anàlisi exhaustiva és possible. Equipat amb un espectròmetre de raigs X dispersiu de longitud d'ona (WDX) o un espectròmetre de raigs X dispersiu d'energia (EDX), té la funció d'una sonda electrònica i també pot detectar electrons reflectits, raigs X, fluorescència catòdica, electrons transmesos, i Electrònica Auger, etc. L'expansió de l'aplicació de la microscòpia electrònica d'escaneig a diversos mètodes d'anàlisi microscòpica i micro-àrea mostra la versatilitat de la microscòpia electrònica d'escaneig. A més, també és possible analitzar les micro-regions opcionals de la mostra mentre s'observa la imatge morfològica; amb l'acoblament del porta-mostres de semiconductors, la unió PN i els micro defectes en el transistor o circuit integrat es poden observar directament a través de l'amplificador d'imatges de força electromotiva. Atès que moltes sondes electròniques sem s'adonen del control automàtic i semiautomàtic de l'ordinador electrònic, la velocitat de l'anàlisi quantitativa es millora així.