Desenvolupament del xip de detecció d'ADN

El gener del 2004, HP va llançar oficialment els seus xips a nanoescala per a la detecció ràpida d’ADN. El 2004 es van adoptar els complicats passos de detecció de microarrays d’ADN basats en principis òptics en la detecció d’ADN. L'equip d'HP va canviar els passos complicats al xip del circuit per processar-lo; en producció, es va transmetre el xip de detecció d’ADN. L’element sensible és un nanofil amb un gruix d’uns 50 nanòmetres, que es fa mitjançant litografia de feix d’electrons i gravat d’ions reactius. Tot i això, per qüestions comercials, els resultats són massa alts. Per tant, l’equip de recerca està desenvolupant una tecnologia que utilitza una litografia òptica més barata per fabricar components de xips de detecció d’ADN.